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DX8004D 变频抗干扰介质损耗测试仪_上海电兴科技
产品简介
自动抗干扰精密介质损耗测量仪用于现场抗干扰介损测量,或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构,内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立
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产品介绍

DX8004D 变频抗干扰介质损耗测试仪
 

基础参数:

1.1.1介损和电容量测量

准确度: Cx:±(读数×1%+1pF)

tgδ:±(读数×1%+0.00040)

抗干扰指标:变频抗干扰,在200%干扰下仍能达到上述准确度

电容量范围:内施高压:3pF~60000pF/10kV        60pF~1.2μF/0.5kV

外施高压:3pF~1.5μF/10kV     60pF~30μF/0.5kV

分辨率:最高0.001pF,4位有效数字

tgδ范围:不限,分辨率0.001%,电容、电感、电阻三种试品自动识别。

试验电流范围:10μA~5A

内施高压:设定电压范围:  0.5~10kV

最大输出电流:200mA

升降压方式:连续平滑调节

电压精度:±(1.5%×读数+10V)

电压分辨率:1V

试验频率:  45~65Hz整数频率

49/51Hz、45/55Hz自动双变频

频率精度:±0.01Hz

外施高压:  正接线时最大试验电流5A / 40~70Hz

反接线时最大试验电流10kV / 5A / 40~70Hz

CVT自激法低压输出:输出电压3~50V,输出电流3~30A

CVT变比测量

变比范围:10~99999

变比精度:±读数×1%

相位范围:0~359.999°

相位精度:±0.02°

测量时间:  约30s,与测量方式有关
 







 

 




 

 

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